Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics - Wallis, T. Mitch, Kabos, Pavel
Wallis, T. Mitch, Kabos, Pavel |
2017 |
Harde kaft |
Engels
Leverbaar
Niet op voorraad in de winkel
€ 149,85
Beschrijving
Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.
Specificaties
Door (auteur) | Wallis, T. Mitch, Kabos, Pavel |
Uitgeverij | Van Ditmar Boekenimport B.V. |
Genre | Technische wetenschappen algemeen |
Uitgave | Harde kaft |
Aantal pagina's | 328 |
Verschenen op | 01-01-2017 |
ISBN / EAN | 9781107120686 |
Taal | Engels |
Gewicht | 788 g |
Hoogte | 248 mm |
Breedte | 179 mm |
Dikte | 19 mm |