Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics - Wallis, T. Mitch, Kabos, Pavel

Wallis, T. Mitch, Kabos, Pavel | 2017 | Harde kaft | Engels
Leverbaar
Niet op voorraad in de winkel
€ 149,85

Beschrijving

Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.

Specificaties

Door (auteur) Wallis, T. Mitch, Kabos, Pavel
Uitgeverij Van Ditmar Boekenimport B.V.
Genre Technische wetenschappen algemeen
Uitgave Harde kaft
Aantal pagina's 328
Verschenen op 01-01-2017
ISBN / EAN 9781107120686
Taal Engels
Gewicht 788 g
Hoogte 248 mm
Breedte 179 mm
Dikte 19 mm